日本三豐SV-2100系列表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x

Surftest (表面粗糙度測(cè)量?jī)x) SV-2100
178 系列 — 帶有控制/ 裝置型表面粗糙度測(cè)量?jī)x
高精度，高性能友好界面，操作更簡(jiǎn)單。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

•顯示一目了然，操作簡(jiǎn)單。配備可見(jiàn)度7.5英寸TFT LCD屏幕。彩色圖標(biāo)顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡(jiǎn)單。

•輕松定位使用控制器內(nèi)置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內(nèi)側(cè)的測(cè)量，需要對(duì)微小測(cè)頭進(jìn)行微調(diào)。利用手動(dòng)手柄，實(shí)現(xiàn)輕松微調(diào)。

•輕松設(shè)置表面粗糙度的測(cè)量條件。利用配備的簡(jiǎn)單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標(biāo)準(zhǔn)的繪圖指令符號(hào)進(jìn)行輸入。以往非常麻煩的測(cè)量條件設(shè)置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號(hào)即可。

技術(shù)參數(shù)：

X軸(驅(qū)動(dòng)部)

測(cè)量范圍: 100mm

分辨率: 0.05μm

檢測(cè)方法:線(xiàn)性編碼器

驅(qū)動(dòng)速度: 0 - 40mm/s

測(cè)量速度: 0.02 - 5mm/s

移動(dòng)方向:向后

直線(xiàn)度: 0.15μm / 100mm Z2軸(立柱)

類(lèi)型:手動(dòng)操作或電驅(qū)動(dòng)

垂直移動(dòng): 350mm或550mm*

分辨率*: 1μm

檢測(cè)方法*:旋轉(zhuǎn)編碼器

驅(qū)動(dòng)速度*: 0 - 20mm/s *僅適于電驅(qū)動(dòng)型檢測(cè)器

范圍／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,8μm / 0.0001μm

檢測(cè)方法:無(wú)軌／有軌測(cè)量

測(cè)力: 4mN或0.75mN (低測(cè)力型)

測(cè)針針尖:金剛石、90o/ 5μmR (60o/ 2μmR:低測(cè)力型)

導(dǎo)頭曲率半徑: 40mm

檢測(cè)方法:差動(dòng)電感式控制器

顯示: 7.5"帶背光的TFT彩顯

打印機(jī):內(nèi)置熱敏打印機(jī)

放大倍率:水平: X10至X500,000、自動(dòng)垂直: X0.5至X10,000、自動(dòng)

驅(qū)動(dòng)裝置的控制:通過(guò)操縱桿手動(dòng)手柄的操作

評(píng)估能力：

評(píng)估輪廓P (主輪廓), R (表面粗糙度輪廓), WC, WCA, WE, WEA,包絡(luò)殘余線(xiàn)、粗糙度motif、波形motif評(píng)估參數(shù)Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr(c), dc, mr,tp, Htp, Lo, Ir, Ppi, HSC, Da, Dq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2,A1, A2, Vo, la, lq粗糙度motif參數(shù): R, AR, Rx波形motif參數(shù): W, AW, Wx, Wte分析圖表ADC, BAC,功率譜圖數(shù)顯濾波器2CR-75%, PC-75%、高斯濾波器、魯棒樣條截止波長(zhǎng)ls: 0.25μm, 0.8μm, 2.5μm, 8μm, 25μm, 250μm、無(wú)濾波器lc*: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm lf: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm、無(wú)濾波器采樣長(zhǎng)度(L)* 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm, 80mm (僅適于SV-2100)數(shù)據(jù)補(bǔ)償功能拋物線(xiàn)補(bǔ)償、雙曲線(xiàn)補(bǔ)償、橢圓補(bǔ)償、R平面(曲面)補(bǔ)償、錐面補(bǔ)償、傾斜補(bǔ)償*在0.02mm至50mm的范圍內(nèi)可任意長(zhǎng)度。

日本三豐SV-2100系列表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x

性能參數(shù)：